반자동 비디오 측정 기기의 일부 측정 기술

이미지 측정 기기는 프로그래밍 전에 도면에 익숙해야합니다. 복잡한 측정 도면에는 컨테이너 요구 사항, 최대 재료 요구 사항, 최소 재료 요구 사항 및 가역적 요구 사항으로 나눌 수있는 많은 공통 공차 원리가 있습니다.

요구 사항 포함 : 경계와 같이 최대 물리적 크기를 가진 휴대용 자기 입자 테스트 기계로 제어되는 테스트 된 요소의 실제 크기 및 모양 오차의 포괄적 인 결과, 즉 외부 동작 크기가 최대 물리적 크기를 초과하지 않습니다. .

최대 재료 요구 사항 : 치수 공차 값은 측정 된 요소가 최대 재료 상태에있을 때 주어진 공차 값입니다. 최대 재료의 실제 효과 경계 (MV로 표시)

구성 요소의 크기, 모양 및 위치 오차의 포괄적 인 결과와 실제 크기는 한계 크기를 초과하지 않아야합니다. 테스트 된 단위의 실제 윤곽이 가장 큰 엔티티의 실제 경계를 초과하지 않으면 모양이 허용됩니다.

위치 오차 값은 크기 공차 값보다 크기 때문에 크기 공차가 모양 및 위치 공차를 보상 할 수 있습니다.

최대 유효 3 차원 크기에 대한 계산 공식은 다음과 같습니다.

축 : V = dmax+m과 공통적 인 기하학적

구멍 : dmv = dmin- m과의 기하학적 공차

최소 물리적 요구 사항 : 최고의 기술 및 경제적 이점을 달성하기 위해 제품 설계를 기반으로합니다.

표시된 기하학적 공차 값은 측정 된 단위가 최소 재료 상태에있을 때 주어진 공차 값입니다. 최소 엔티티 실제 효과 경계 (LV로 표시)를 사용하여 측정 된 단위의 크기 및 기하학적 오차를 제어하는 ​​포괄적 인 결과

실제 크기는 한계 크기를 초과하지 않아야합니다. 테스트 된 장치의 실제 윤곽이 소금 스프레이 테스트 기계의 최소 물리적 크기에서 벗어나는 경우 허용 가능한 모양 및 위치 오차 값은 표시된 모양 및 위치 공차 값, 즉 공차 보상 형태 및 위치보다 큽니다. 허용 된 크기 공차가 일반적입니다.

고체의 최소 유효 크기를 계산하기위한 공식은 다음과 같습니다.

축 : DLV = DMIN- M과의 기하학적 공차

구멍 : lv = dmax+기하학적 공차 m

가역적 요구 사항을 최대 및 최소 물리적 요구 사항에 적용 : 실제 물리적 치수를 사용하여 측정 된 단위 크기, 모양 및 위치 오류의 포괄적 인 결과를 제어합니다.

측정 된 특징의 윤곽이 최대 물리적 효과 경계를 초과하지 않으면 측정 된 기능의 치수 공차는 기하학적 공차 값을 보상 할 수 있습니다. 동시에 측정 된 기하학적 공차 값이 마크보다 작을 때

값, 실제 크기는 물리적 크기를 초과 할 수 있습니다.

광학 감지는 광학 렌즈를 사용하여 물체의 이미지를 확장하고 그 특성을 정확하게 평가하는 것입니다. 광학 측정은 생산 및 제조 공정에서 품질 관리의 중요한 측면입니다. 여기에는 운영자 관찰을 통한 신속하고 주관적인 탐지와 측정 기기를 통한 자동 정량적 탐지가 포함됩니다. 광학 측정은 오프라인으로 수행 될 수 있습니다. 즉, 공작물은 생산 라인에서 제거되어 측정을 위해 테스트 플랫폼으로 전송됩니다. 또한 온라인으로 수행 할 수 있습니다. 즉, 공작물이 생산 라인을 떠날 필요가 없습니다. 또한, 공작물은 생산 라인 옆에서 테스트 될 수 있으며 완료 후 생산 라인으로 빠르게 반환 할 수 있습니다.

이러한 모든 광학 측정 기기는 카메라와 유사한 방식으로 이미지를 확대합니다. 갠트리 이미지 측정 기기에서 단일 렌즈 확대 유리의 고정 배율은 적용 범위를 제한합니다. 예를 들어, 추가 확장이 필요한 중요한 공작물 세부 사항을 감지하기가 어렵습니다. 측정 시스템이 배율을 높일 수 있다면 적용 범위가 확장됩니다. 이를 달성하기 위해 일반적으로 렌즈 변경, 렌즈 턴테이블 및 줌 렌즈의 세 가지 방법이 있습니다.

증폭 전환의 요구 사항을 충족시키는 또 다른 솔루션은 비디오 측정 시스템에서 일반적으로 사용되는 방법 인 줌 렌즈를 사용하는 것입니다. 줌 렌즈를 사용하면 연산자는 낮은 배율에서 시야 필드를보고 세부 사항을 볼 때 필요한 경우 렌즈를 더 가깝게 당기고 렌즈를 교체하는 데 어려움을 겪고 렌즈 턴테이블을 회전시킬 수 있습니다.

광학 성능은 시스템 효율성과 이미지 품질에 영향을 줄 수 있기 때문에 이러한 측정 시스템은 모두 광학 성능에 대한 요구 사항이 동일합니다. 최상의 탐지 결과를 달성하기 위해이 장치의 광학 시스템은 왜곡되지 않고 대규모 작업 공간을 제공하고 명확한 대비 이미지를 생성 할 수 있어야합니다.